Analytik
- Sekundärionen Massenspektrometrie (SIMS)
- Zweikreis-Röntgendiffraktometrie (XRD)
- Röntgenreflektometrie (XRR)
- Photoelektronenspektroskopie (XPS, UPS)
- Hall-Effekt und Kapazitäts-Spannungs-Spektroskopie
- UV-VIS-NIR-Spektroskopie (Reflexions- und Transmissionsmessungen)
- Magnetische Resonanzmethoden (ESR, ODMR, ENDOR)
- Photolumineszenz (PL)
Weiterhin besteht die Möglichkeit im Rahmen der Kooperation mit anderen Arbeitsgruppen folgende Analysemethoden zu nutzen:
- Raman-Spektroskopie
- Rasterkraftmikroskopie (AFM)
- Rasterelektronenmikroskopie (SEM)
- Energiedispersive Röntgenspektroskopie (EDX)