Februar

Bild des Monats Februar 2014

REM-Aufnahmen von SnO₂-Dünnschichten auf unterschiedlichen Substraten

In der Abbildung sind die rasterelektronenmikroskopischen Aufnahmen von SnO₂‑Dünnschichten dargestellt, die mittels chemischer Gasphasenabscheidung (CVD) bei 650 °C mit einer Dicke von  » 1,5 mm auf unterschiedlichen Substraten abgeschieden wurden.

(Bild eingereicht von Yinmei Lu und Dr. Jie Jiang, AG Prof. Dr. Bruno K. Meyer)