Elektrochemie- und Grenzflächenlabor (ELCH)
Elektrochemie und Grenzflächenlabor (ELCH)
Diese von der AG Janek koordinierte Plattform umfasst diverse Analysetechniken im Bereich der elektrochemischen Material- und Oberflächenforschung:
- Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie - MERLIN, Carl Zeiss NTS (mit EDX, EBSD),
Ansprechpartner ist Dr. Klaus Peppler. -
NEU: Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskop (PFIB-REM) - Tescan XEIA3 (mit Detektoren für Sekundär-, Rückstreu- und Transmissions-Elektronen, EDX, Schutzgas- und Vakuumtransfersystem aus Glovebox, Kryo-Tisch), Ansprechpartner ist Dr. Klaus Peppler.
- Flugzeit-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) - ToF-SIMS 5, ION-TOF (mit Ar-Cluster-Quelle und FIB), Ansprechpartner ist Dr. Marcus Rohnke.
- Photoelektronenspektroskopie (XPS) - Versaprobe II, Physical Electronics GmbH (mit Auger, UPS, Mg/Zr-Anode, C60-Quelle), Ansprechpartner ist Dr. Joachim Sann.
- Dünnschicht-Röntgendiffraktometrie (XRD) - X'Pert Pro, PANalytical B.V. (mit Heizkammer XRK 900), Ansprechpartner ist Dr. Bjoern Luerßen.
- Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) - Empyrean, PANalytical B.V. (mit Heizkammer DHS 1100), Ansprechpartner ist Dr. Bjoern Luerßen.
- Impedanzmessplätze (Bio-Logic SAS; ZAHNER-elektrik GmbH & Co. KG; Novocontrol Technologies GmbH & Co. KG), z.T. mit Temperaturkontrolle, Ansprechpartner ist Dr. Joachim Sann.
- Batteriezyklisierer (Maccor, Inc.; Bio-Logic SAS), Ansprechpartner ist Dr. Joachim Sann.
- Kontaktwinkelmessgerät, Ansprechpartner ist Dr. Marcus Rohnke.
Hier finden Sie die Nutzungsordnung der Methodenplattform ELCH (g-Kennung und Passwort erforderlich).