fcmhgrafikAlles unter Kontrolle: Die Spitze eines Rastertunnelmikroskops (STM) kann nicht nur zur Abbildung der Silizium-Oberfläche und der adsorbierten Ethermoleküle mit atomarer Auflösung verwendet werden. Durch den Elektronenstrom zwischen Spitze und Probe kann auch die Etherspaltung induziert werden, was zu neuen Endprodukten führt, die wiederum von der gewählten Anregung abhängen. Grafik: Gerson Mettehttps://www.uni-giessen.de/de/ueber-uns/pressestelle/pm/FCMHPM0219Grafik.jpg/viewhttps://www.uni-giessen.de/@@site-logo/logo.png
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Alles unter Kontrolle: Die Spitze eines Rastertunnelmikroskops (STM) kann nicht nur zur Abbildung der Silizium-Oberfläche und der adsorbierten Ethermoleküle mit atomarer Auflösung verwendet werden. Durch den Elektronenstrom zwischen Spitze und Probe kann auch die Etherspaltung induziert werden, was zu neuen Endprodukten führt, die wiederum von der gewählten Anregung abhängen. Grafik: Gerson Mette