31.10.2005: „EBSD“ am HREM neu installiert

Seit wenigen Tagen ist am hochauflösenden Rasterelektronenmikroskop des PCI (AG Janek) ein EBSD-Detektor installiert (EBSD = Elektron Backscatter Diffraction). Mit diesem Detektor und einer umfangreichen Software kann aus rückgestreuten und gebeugten Elektronen lokale Strukturinformation gewonnen und Kristallitorientierungen bestimmt werden – und dies mit einer Auflösung in der Größenordnung bis ca. 20 nm. Informationen gibt Dr. Carsten Korte (Tel. 34508).