Februar
Bild des Monats Februar 2014
REM-Aufnahmen von SnO2-Dünnschichten auf unterschiedlichen Substraten
In der Abbildung sind die rasterelektronenmikroskopischen Aufnahmen von SnO2‑Dünnschichten dargestellt, die mittels chemischer Gasphasenabscheidung (CVD) bei 650 °C mit einer Dicke von » 1,5 mm auf unterschiedlichen Substraten abgeschieden wurden.
(Bild eingereicht von Yinmei Lu und Dr. Jie Jiang, AG Prof. Dr. Bruno K. Meyer)