Geräteausstattung

IR

VERTEX70 / PMA50 (Fa. Bruker Optics)

• Messbereiche (Strahlteiler): NIR (VIS), MIR (KBr), FIR (Si)
• Detektoren: InGaAs (NIR), DTGS (NIR, MIR), Si-Diode (FIR), LN-MCT (PMA50)
• min. Auflösung: 0.2 cm^–1
• Methoden: Gas, Film, Pressling, ATR, VCD, IRRAS

VERTEX70 / Platinum ATR (Fa. Bruker Optics)

• Messbereiche (Strahlteiler): NIR, MIR (Breitband)
• Detektoren: DTGS (NIR, MIR)
• min. Auflösung: 0.2 cm^–1,
• Methoden: Gas, Film, Pressling, ATR

ALPHA (Fa. Bruker Optics)

• Messbereiche (Strahlteiler): MIR (KBr)
• Detektoren: DTGS (MIR)
• min. Auflösung 1 cm^–1
• Methoden: Gas, Film, Pressling, ATR

UV/Vis

Jasco V760 (Fa. Jasco)

• Zweistrahlgerät
• Messbereich: 190-900 nm
• min. Auflösung: 0.1 nm

Jasco V670 (Fa. Jasco)

• Zweistrahlgerät
• Messbereich: 190-2500 nm
• min. Auflösung: 0.1 nm

Emission

Spektrofluorometer FP8300 (Fa. Jasco)

• Fluoreszenz (variable Anregung)
• Phosphoreszenz (variable Anregung)
• Messbereich: 200-900 nm
• min. Auflösung: 1 nm

Polarimetrie

Polarimeter P-2000 (Fa. Jasco)

• Verfügbare Interferenzfilter: 633, 589, 578, 546, 435, 405, 365, 313, 254 nm