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August 2014

Die Abbildung zeigt eine rasterelektronenmikroskopische Aufnahme einer mittels gepulster Laserdeposition (PLD) auf einem Saphir-Einkristall (Al2O3) abgeschiedenen Ceroxid-(CeO2)-Dünnschicht. Auf diese wurde mittels Photolithographie eine interdigitale Platinelektrode aufgebracht. In der Abbildung ist der Querschnitt durch das Schichtsystem gezeigt. Der Aufbau dient uns unter anderem dazu, die Leitfähigkeit des gemischten Leiters Ceroxid mittels Impedanzspektroskopie bei verschiedenen Temperaturen und Gasatmosphären zu messen. Aus den so gewonnenen Daten lassen sich Rückschlüsse auf die Transporteigenschaften der Ceroxid-Dünnfilme ziehen. Da die Dünnfilme mit wohl definierten morphologischen Eigenschaften hergestellt werden können, bietet dieses Modellsystem die Möglichkeit, den Einfluss dieser Größen auf die Tranksporteigenschaften von CeO2 zu studieren – stellvertretend für eine ganze Reihe polykristalliner, gemischter Leiter. (Bild eingereicht von Matthias Kleine-Boymann.)

August 2014
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