August 2019

Die Rasterkraftmikroskopie (atomic force microscopy, AFM) ist eine Methode zur Charakterisierung einer Probenoberfläche, bei er eine Spitze nahe über die zu untersuchende Oberfläche geführt wird. Durch Messung der atomaren Kräfte zwischen Spitze und Oberfläche anhand der Auslenkung der Spitze lassen sich Informationen über die Topographie der Oberfläche gewinnen oder aber auch die magnetischen und chemischen Eigenschaften der Oberfläche bestimmen. Das Bild zeigt links die mittels AFM untersuchte Topographie einer Kathode für Lithium-Ionenbatterien, wobei als Aktivmaterial Sekundärpartikel von Li(Ni,Co,Mn)O2 mit einem Durchmesser von einigen Mikrometern in Kohlenstoff eingebettet sind. In der rechten Aufnahme wurde während der AFM-Messung eine elektrisch leitfähige Spitze verwendet, um die elektrische Leitfähigkeit der Kathode an der Oberfläche zu untersuchen. Deutlich zu erkennen ist die Wirkung des Kohlenstoffs als Leitadditiv, da ein elektrischer Strom hauptsächlich Bereich des Kohlenstoffs gemessen wird. (Bild eingereicht von Miguel Wiche und Matthias Elm)