Mai 2011

Seit Anfang Februar besitzt das Physikalisch-Chemische Institut ein neues hochauflösendes Rasterelektronenmikroskop (HRSEM) der Firma ZEISS. Es handelt sich um ein MERLIN mit einer nominellen Auflösung von 0,8 nm und ist insgesamt mit sechs Detektoren ausgestattet: Zwei SE-Detektoren für Rasterbilder von Probenoberflächen; zwei BSE-Detektoren zur Darstellung von Materialkontrasten; ein EDX-Detektor von OXFORD INSTRUMENTS zur Bestimmung von Probenzusammensetzungen; und einem EBSD-System zur Darstellung der Kristallorientierung von (poly-)kristallinen Proben. Außerdem gibt es auch noch eine Ladungskompensation für isolierende Proben. Bild eingereicht von: Dr. Klaus Peppler (klaus.peppler@phys.chemie.uni-giessen.de).