Methodenplattform für Rastersondenmethoden (Sonde) gegründet

Mit Sonde haben ab sofort alle materialwissenschaftlich arbeitenden Gruppen im ZfM Zugriff auf hochwertige Rasterkraftmikroskope (AFMs), mit denen die Oberflächen moderner Funktionsmaterialien unter verschiedenen Umgebungsbedingungen umfassend charakterisiert werden können.