Rastersondenmethoden (Sonde)

Die Methodenplattform Sonde dient der Charakterisierung von Oberflächen und Grenzflächen mittels der Rasterkraftmikroskopie. Die Plattform wird von mehreren Arbeitsgruppen aus dem Institut für Angewandte Physik und dem I. Physikalischen Institut (AGs Schirmeisen, Schlettwein, Elm) betrieben und stellt eine Vielzahl von rastersondenmikroskopischen Analyseverfahren zur Verfügung.

Neben der Oberflächentopographie können nano- und elektro-mechanische Eigenschaften, Oberflächenleitfähigkeiten und elektrochemische Prozesse untersucht werden.
Mit den bestehenden Geräten und der dazugehörigen Expertise in den die Plattform tragenden Arbeitsgruppen stehen Messmöglichkeiten für unterschiedliche rasterkraftmikroskopische Fragestellungen unter Umgebungsbedingungen zur Verfügung, die von Flüssigkeiten über kontrollierte Gasatmoshäre und Umgebungsluft bis hin zum Hochvakuum reichen.

Hier finden Sie die Nutzungsordnung der Methodenplattform Sonde (g-Kennung und Passwort erforderlich).

Dir folgenden Geräte sind verfügbar: