Rasterkraftmikroskop (AFM) für Messungen an Luft

Betreibende Arbeitsgruppe:

Methodenplattform:

Standort:

Physikgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 305 (3. Stock)

Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:

für Messungen an Luft mit Peak Force TUNA Mode mit Conductive AFM zur Messung der Oberflächenleitfähigkeit (Typ MultiMode 8 SPM von Bruker)

Ansprechpartner:

Dr. Matthias Elm

Zentrum für Materialforschung

Physikgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 329

Tel. +49-641-99-33132