Liste aller gemeinsam nutzbaren Geräte im ZfM/LaMa https://www.uni-giessen.de/de/fbz/zentren/lama/Platt/geraete-alphabetisch https://www.uni-giessen.de/@@site-logo/logo.png Inhaltspezifische Aktionen Liste aller gemeinsam nutzbaren Geräte im ZfM/LaMa Kollektion aller Geräte 3D-Drucker (AG Smarsly) 3D-Drucker Ultimaker (AG Smarsly) 3D-Mikrolithografie Absolute Photolumineszenz Absorptionsspektrometer UV-VIS (AG Dürr) Atomlagen-Abscheidung (ALD) Ätzstation (AG Schirmeisen) Autotitrator (AG Smarsly) Batteriezyklisierer Clusterinduzierte Desorption/Ionisation Massenspektrometrie (AG Dürr) Dauerstrich-Photolumineszenz Deposition organischer Dünnfilme (AG Schlettwein) Diodenarrayspektrometer mit Lichtleitereinkopplung (AG Schlettwein) Dip-Coater (AG Smarsly) Dünnschicht-Chromatographie-Massenspektrometrie (TLC-MS) (AG Schreiner) Dünnschicht-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Janek) Dünnschicht-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Chatterjee) Einkristall-Röntgendiffraktometrie (XRD) BRUKER D8 Venture - Messplatz 1 (AG Müller-Buschbaum) Einkristall-Röntgendiffraktometrie (XRD) BRUKER D8 Venture - Messplatz 2 (AG Müller-Buschbaum) Elektron-Spin-Resonanz (ESR) Elektronenkanonen-Aufdampfanlage Elektronenspinresonanz (AG Schreiner) Elektronenstrahl-Lithografie (EBL) Elektrospinning-Kammern (AG Smarsly) Elementaranalyse CHN (AG Schreiner) Emissions-Spektroskopie (AG Schreiner) Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie (MiNaLab) Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie Feldionenmikroskop (AG Schirmeisen) Flugzeit-Massenspektrometer (AG Schreiner) Flugzeit-Massenspektrometrie mit AFM (ToF-SIMS) Fluoreszenzspektrometer (AG Dürr) Fotolithografie Gaschromatographie-Flammenionisationsdetektor (GC-FID) (AG Schreiner) Gaschromatographie-Massenspektrometrie (GC-MS) (AG Schreiner) Gassensor-Setup (AG Smarsly) Glovebox (AG Smarsly) Glovebox (AG Smarsly) Hall-Messplatz Hochauflösendes Transmissionselektronenmikroskop (AG Müller-Buschbaum) Hochleistungs-Flüssigkeitschromatographie (HPLC) (AG Smarsly) Hochleistungs-Flüssigkeitschromatographie (HPLC) (AG Schreiner) Hochtemperatur-Tribometer (AG Schirmeisen) Hochvakuum-AFM (AG Schlettwein) Hybrid-Flugzeit-Massenspektrometrie (ToF-SIMS) Impedanzmessplätze Infrarot-Spektroskopie (AG Schreiner) Ionenstrahl-Sputteranlage (AG Janek) Ionenstrahl-Sputteranlage (AG Klar) Ionenstrahlätzer Klimaprüfschrank (AG Smarsly) Konfokales Lasermikroskop (AG Schlettwein) Kontaktwinkel-Messgerät Laserellipsometrie (AG Smarsly) Laserstrahl-Verdampfen (PLD) Magnetron-Sputteranlage (AG Janek) Magnetron-Sputteranlagen (AG Klar) Mikrowellensynthese-Reaktor (AG Smarsly) Molekularstrahl-Epitaxie (MBE) Nanopartikel-Analysator Nanotracking-Analyser Nicht gerührter Druckbehälter (AG Smarsly) NMR-Spektroskopie (AG Schreiner) Photoelektronenspektroskopie (AG Dürr) Photovoltaisches und Impedanzmesssystem (AG Schlettwein) Physisorption Autosorb Physisorption Quadrasorb Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskopie (PFIB-SEM) Polarimetrie (AG Schreiner) Profilometer (AG Schlettwein) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Janek) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) PANalytical X’Pert PRO (AG Müller-Buschbaum) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) STOE Stadi P - Messplatz 1 (AG Müller-Buschbaum) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) STOE Stadi P - Messplatz 2 (AG Müller-Buschbaum) Pulver-XRD Tischgerät (AG Smarsly) Quecksilberporosimetrie Raman-Mikroskop Raman-Mikroskop (AG Smarsly) Rasterkraftmikroskop (AFM) für Messungen an Luft Rasterkraftmikroskop (AFM) mit Hochvakuum Rasterkraftmikroskop (AFM) für Messungen an Luft / in Flüssigkeiten Rasterkraftmikroskop (AFM) in Glovebox Rasterkraftmikroskop (AG Schlettwein) Raumtemperatur-Tribometer (AG Schirmeisen) Reaktivionenätzer Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Smarsly) Semiconductor Analyzer Solarsimulator (AG Schlettwein) Spektralphotometer (AG Smarsly) Spin-Coater (AG Smarsly) Stimmgabel-AFM (AG Schirmeisen) Thermische Aufdampfanlage Tieftemperatur Rastertunnelmikroskop/Rasterkraftmikroskop (AG Schirmeisen) Tribometer für ölgeschmierte Kontakte (AG Schirmeisen) UHV-Cantilever-AFM (AG Schirmeisen) UHV-Rastertunnelmikroskop (AG Dürr) Ultra-Scheibenzentrifuge Ultrahochvakuum-Rastertunnelmikroskop/Rasterkraftmikroskop (AG Schirmeisen) Ultraschall-Homogenisator (AG Smarsly) UV-Strahler (AG Smarsly) UV-VIS-NIR-Spektroskopie UV/Vis-Spektroskopie (AG Schreiner) Zeitaufgelöste Photolumineszenz