Flugzeit-Massenspektrometrie mit AFM (ToF-SIMS)

AG Prof. Dr. Jürgen Janek

Methodenplattform:

Elektrochemie- und Grenzflächenlabor (ELCH)

Standort:

Chemiegebäude, Heinrich-Buff-Ring 17, Raum B 012 (Untergeschoss)

Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:

IONTOF GmbH M6 Plus SIMS (mit Rastersondenmikroskop)

Dr. Marcus Rohnke

Physikalisch-Chemisches Institut

Chemie-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 17, Raum B 67

Tel. +49-641-99-34502

e-Mail

Dr. Anja Henß

Physikalisch-Chemisches Institut

Chemie-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 17, Raum B 72

Tel. +49-641-99-34515

e-Mail