Rasterkraftmikroskop (AFM) mit Hochvakuum

AG Prof. Dr. Derck Schlettwein

Methodenplattform:

Rastersondenmethoden (Sonde)

Standort:

Physikgebäude, Heinrich-Buff-Ring 14, Raum 43 (Erdgeschoss)

Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:

für Messungen unter Hochvakuum typ. für KPFM (Kelvin probe force microscopy) ggfs. nach Probentransfer ohne Vakuumunterbrechung (Typ Vacuscope 1000 von AIST-NT)

Prof. Dr. Derck Schlettwein

Institut für Angewandte Physik

Physikgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 139

Tel. +49-641-99-33401

e-Mail