Nanotracking-Analyser

AG Prof. Dr. Peter J. Klar

Methodenplattform:

Charakterisierung nanoskaliger Systeme (NanoSys)

Standort:

Physik-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 506

Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:

Malvern Instruments Ltd. Nanosight mit CCD-Kamera zur Partikelverfolgung, Größen-Messbereich ca. 10 – 1.000 nm (Brechungsindex-abhängig)

Dr. Limei Chen

I. Physikalisches Institut

Physik-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 404c

Tel. +49-641-99-33108

e-Mail