Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskopie (PFIB-SEM)

AG Prof. Dr. Jürgen Janek

Methodenplattform:

Elektrochemie- und Grenzflächenlabor (ELCH)

Standort:

Chemiegebäude, Heinrich-Buff-Ring 17, Raum B 02 (Untergeschoss)

Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:

Tescan XEIA3 (mit Detektoren für Sekundär-, Rückstreu- und Transmissions-Elektronen, EDX (EDAX), Schutzgas- und Vakuumtransfersystem (Leica Microsystems), Kryo-Tisch (Leica Microsystems))

Dr. Klaus Peppler

Physikalisch-Chemisches Institut

Chemie-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 17, Raum A 12

Tel. +49-641-99-34505

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