Dünnschicht-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Chatterjee)
AG Prof. Dr. Sangam Chatterjee
Methodenplattform:
Röntgendiffraktions- und Strukturlabor (Diff-S)
Standort:
Physikgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 306
Gerätetyp, Eigenschaften, sonstige Angaben:
Rigaku SmartLab
9 kW Röntgengenerator mit Cu-Strahlung und 2D-Detektor für schnelle Messungen, Phasen- und Strukturanalyse an polykristallinen- und epitaktischen Schichten, In-Plane-Phasen- und Strukturanalyse an polykristallinen- und epitaktischen Schichten, Reflektometrie-, Rocking-Curve- und Reciprocal-Space-Maps-Messungen, Polfigurmessungen, Pulvermessungen, Mikrofokus-Messungen.
Ansprechpartner:
Dr. Jörg Schörmann
I. Physikalisches Institut
Physikgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 334
Tel. +49-641-99-33122