Juni 2010

Im rechten Teil Bild ist eine optische Aufnahme einer Probenoberfläche zu sehen. Im linken Teil des Bildes sind übereinander drei SIMS Image-Aufnahmen (500 µm X 500 µm Fläche) desselben Bereichs zu sehen. Dunkle Bereiche (rot bis schwarz) in den Bildern der linken Spalte stehen für geringere Signalintensitäten, helle Bereiche (gelb bis weiß) für hohe Signalintensitäten. Die Oberflächenstrukturen, die auch im Totalionenbild (linke Spalte ganz unten, TI) zu sehen sind, können verschiedenen Elementen zu geordnet werden. Die Verteilung von Strontium (Sr) und Magnesium (Mg) zeigt deutlich die vorliegenden Oberflächenstrukturen. Bild eingereicht von S. Steinmüller