September 2011

Seit Mai diesen Jahres steht dem Physikalisch-Chemischen Institut eine Anlage des Typs PHI 5000 VersaProbe™ für die Elektronen Spektroskopie zur Chemischen Analyse (ESCA) zur Verfügung. Mit dieser Anlage lassen sich die Analysemethoden der Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS), Ultraviolett-Photoelektronenspektroskopie (UPS) und der Auger-Elektronenspektroskopie (AES) durchführen. Des Weiteren ist es mittels Argon- oder C60-Sputtern möglich, Tiefenprofile einer Probe zu erstellen. Bei der XPS wird eine Aluminium-Anode zur Erzeugung monochromatischer Röntgenstrahlen verwendet. Diese Röntgenstrahlen können ortsaufgelöst (<10 μm) an beliebigen Stellen einer Probenoberfläche eingesetzt werden. Damit besteht auch die Möglichkeit, die Probenzusammensetzung lateral abzubilden. Die Bereiche der Oberfläche, welche für die Analyse von Interesse sind, werden vorher über Rasterröntgenabbildungen (SXI) oder Rasterelektronenmikroskopie (REM) ausgewählt. Außerdem lassen sich mit der Anlage winkelaufgelöste Messungen durchführen (AR-XPS). Bild eingereicht von H. Metelmann