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Ebeling, Daniel

Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie

Wir studieren einzelne auf einer Oberfläche adsorbierte Moleküle mit Hilfe der Tieftemperatur-Rasterkraftmikroskopie. Durch die Anwendung der sog. „Bond-Imaging-Technik“ sind wir in der Lage einzelne Moleküle mit submolekularer Auflösung abzubilden und sowohl intra- als auch intermolekulare Bindungen sichtbar zu machen. Unser Hauptaugenmerk liegt auf der Erforschung von Reaktionsmechanismen auf Oberflächen, Bestimmung von Adsorptionsgeometrien, Selbstassemblierungprozesse und der Dynamik adsorbierte Moleküle. Darüber hinaus entwickeln wir neue experimentelle Techniken, wie z.B. Multifrequenz-Betriebsmodi mit denen die Abbildungseigenschaften der verwendeten Methode verbessert werden können.
 

 

Kontakt

Dr. Daniel Ebeling

Institut für Angewandte Physik

Tel.: +49-641-99-33482
Fax: +49-641-99-33409

Physik-Institutsgebäude, Heinrich-Buff-Ring 16, Raum 218

 
 
Anwendungen/Funktionen:
  • Reaktionen auf Oberflächen
 
Methoden:
  • Rastersondenmethoden
 
Materialklassen:
  • Organische Moleküle auf Oberflächen