Kollektion der Geräte der AG Janek

Batteriezyklisierer

Dünnschicht-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Janek)

Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie

Flugzeit-Massenspektrometrie mit AFM (ToF-SIMS)

Hybrid-Flugzeit-Massenspektrometrie (ToF-SIMS)

Impedanzmessplätze

Ionenstrahl-Sputteranlage (AG Janek)

Kontaktwinkel-Messgerät

Laserstrahl-Verdampfen (PLD)

Magnetron-Sputteranlage (AG Janek)

Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskopie (PFIB-SEM)

Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Janek)

Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS)