Kollektion aller Geräte https://www.uni-giessen.de/de/fbz/zentren/lama/Platt/geraete/koll_alle_geraete https://www.uni-giessen.de/@@site-logo/logo.png Inhaltspezifische Aktionen Kollektion aller Geräte Nanotracking-Analyser Nicht gerührter Druckbehälter (AG Smarsly) NMR-Spektroskopie (AG Schreiner) Photoelektronenspektroskopie (AG Dürr) Photovoltaisches und Impedanzmesssystem (AG Schlettwein) Physisorption Autosorb Physisorption Quadrasorb Plasma-Focused-Ion-Beam Rasterelektronenmikroskopie (PFIB-SEM) Polarimetrie (AG Schreiner) Profilometer (AG Schlettwein) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Janek) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) PANalytical X’Pert PRO (AG Müller-Buschbaum) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) STOE Stadi P - Messplatz 1 (AG Müller-Buschbaum) Pulver-Röntgendiffraktometrie (XRD) STOE Stadi P - Messplatz 2 (AG Müller-Buschbaum) Pulver-XRD Tischgerät (AG Smarsly) Quecksilberporosimetrie Raman-Mikroskop Raman-Mikroskop (AG Smarsly) Rasterkraftmikroskop (AFM) für Messungen an Luft Rasterkraftmikroskop (AFM) mit Hochvakuum Rasterkraftmikroskop (AFM) für Messungen an Luft / in Flüssigkeiten Rasterkraftmikroskop (AFM) in Glovebox Rasterkraftmikroskop (AG Schlettwein) Raumtemperatur-Tribometer (AG Schirmeisen) Reaktivionenätzer Röntgen-Photoelektronenspektroskopie (XPS) Röntgendiffraktometrie (XRD) (AG Smarsly) Semiconductor Analyzer Solarsimulator (AG Schlettwein) Spektralphotometer (AG Smarsly) < 30 frühere Inhalte 1 2 3 (aktuell) 4 Die nächsten 14 Inhalte >